JB_T 10362-2010 数码照相机
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ID： |
F1CFDC058C394BA8A3F78671383CF5CD |
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文件大小(MB)： |
0.93 |
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页数： |
18 |
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日期： |
2024-8-14 |
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购买： |
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ICS 37.040.10,N46,备案号:28682—2010,中华人民共和国机械行业标准,JB/T 10362—2010,代替 JB/T 10362—2002,数码照相机,Digital camera,2010-02-11 发布2010-07-01 实施,中华人民共和国工业和信息化部发布,JB/T 10362—2010,目 次,前言.. in,范围 1,2规范性引用文件 1,3术语和定义.. 1,4技术要求. 3,4.! 外观和感官要求 3,4.2 功能要求 3,4.3 软件界面..….. 3,4.4 接口互换性 3,4.5 影像质量. 3,4.6 取景器. 4,4.? 内藏闪光灯.. 4,4.8 电池寿命..， 5,4.9 数据存储性能.. 5,4.10 环境试验.. 5,4.1 ! 耐久性.. 6,4.12 安全性:.6,4.13 电磁兼容性 6,5 试验方法 6,5.1 试验环境条件.. 6,5.2 外观和感官要求6,5.3 功能要求. .. 6,5.4 软件界面.. 6,5.5 接口互换性. 6,5.6 影像质量 6,5.7 取景器 10,5.8 内藏闪光灯 10,5.9 电池寿命10,5.10 数据存储性能 10,5.11 环境试验.. 10,5.12 耐久性 11,5.13 安全性能. 11,5.14 电磁兼容性试验.: 11,6 检验规则12,6.1 检验分类12,6.2 不合格分类 12,6.3 检验项目与不合格分类.. 12,7 评判原则13,I,JB/T 10362—2010,8 标志、使用说明 13,8.1 产品标志 13,8.2 包装标志.. 13,8.3 使用说明书 13,9 包装、运输和贮存 13,图1液晶显示屏分区. 5,图2 .畸变测试标板 9,表1液晶显示屏缺陷点限值.. 5,表2大气环境适应性. 5,表3 冲击适应性 . 6,表4功能件耐久性 6,表5静电放电抗扰度水平 12,表6检验项目与不合格分类表..12,II,JB/T 10362—2010,刖 百,本标准代替JB/T 10362—2002《数码照相机》,本标准与JB/T 10362—2002相比,主要变化如下:,——依据GBfT20733—2006《数码照相机术语》修改和补充了部分定义（2002年版的第3章;本,版的第3章）；,——修改了视觉分辨率、彩色还原、白平衡、成像均匀度、曝光量误差、闪光灯的要求及其试验方,法（2002年版的4.3.1、4.3.4、4.3.3、4.3.6、4.3.5、4.7和5.3.1、5.3.4、5.3.3、5.3.6、5.3.5J本,版的4.5.1、4.5.2、4.5.3> 4.5.5、4.5.6和5.6.1、5.6.2、5.6.3、5.6.5、5.6.6、5.7）；,——增加了电磁兼容性的要求及其试验方法（见4.13和5.14）；,——修改了灰阶和畸变的试验方法（2002年版的5.3.2和5.3.8,本版的5.6.4和5.6.8）；,ー修改了影像缺陷、取景视场、液晶取景器的缺陷、环境适应性和耐久性的要求（2002年版的,4.3.7、4.4.1.1、4.422、4.6和4.7,本版的4.5.7、4.6.1、4.6.3、4.10和4.12）,——修改了不合格分类表（见表6）,对不符合程度进行了一定的量化,本标准由中国机械工业联合会提出。.,本标准由全国照相机械标准化技术委员会（SAC/TC107）归ロ,本标准起草单位:杭州照相机械研究所,本标准主要起草人;王林,本标准所代替标准的历次版本发布情况为:,——JB/T 10362—2002 〇,III,JB/T 10362—2010,数码照相机,1范围,本标准规定了数码照相机的术语和定义、要求、试验方法、标志、使用说明、包装、运输和贮存,本标准适用于便携式数码照相机、座式和专用数码照相机。带有拍照功能的手机、DV产品以及具,有数码照相功能等器械的静态图像的测试方法也可参照使用该标准,2规范性引用文件,下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的,修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究,是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准,GB/T 2421.1—2008,GB/T 2422—1995,GB/T 2423.1—2008,2007, IDT),GB/T 2423.2—2008,2007, IDT),GB/T 2423.3—2006,电エ电子产品环境试验概述和指南(IEC 60068-1： 1988, IDT),电工电子产品环境试验,电エ电子产品环境试验,电エ电子产品环境试验,电エ电子产品环境试验,术语(eqvIEC 60068-5-2： 1990),第2部分:试验方法 试验A:低温(IEC 60068-2-1：,第2部分:试验方法,第2部分:试验方法,试验 B:高温(IEC 60068-2-2：,试验Cab:恒定湿热试验(IEC,60068-2-78： 2001, IDT),GB/T 2423.5—1995,60068-2-27： 1987),电エ电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Ea和导则:冲击(idt IEC,GB 4943 信息技术设备的安全(GB 4943—2001, eqv EC 60950： 1999),GB 5296.1消费品使用说明总则,GB 9254—2008信息技术设备的无线电骚扰极限值和测量方法(IEC CISPR 22： 2006, IDT),G……
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